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    上海仪电物光显微熔点测定仪价格表

    点击: 次 时间:2016-04-05 17:35

    产品型号

    主要技术参数

    市场价格(元)

    优惠价格(元)

     

     

    SGW X-4A

    熔点测量范围:室温至320℃

    测量重复性:

    ±1℃ (在<200℃ 时),±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)

    温度显示最小值:0.1℃

    熔点观察方式 :单目显微镜

    光学放大倍数 :40×

     

     

    4800

     

     

    3840

     

     

    SGW X-4

    熔点测量范围:室温至320℃

    测量重复性:

    ±1℃ (在<200℃ 时), 

    ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)

    温度显示最小值: 1℃

    熔点观察方式: 单目显微镜

    光学放大倍数 :40×

     

     

    3800

     

     

    3040

     

     

    SGW X-4B

    熔点测量范围:室温至320℃ 

    测量重复性:

    ±1℃ (在<200℃ 时)

    ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) 

    温度显示最小值:0.1℃

    熔点观察方式: 双目显微镜 

    光学放大倍数: 40-100X

     

     

    5800

     

     

    4640




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